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> > > 엘텍알에프는 RF회로 전용 SAW Filter 전문 생산 와이솔과 SAW 필터 신뢰성 시험 시스템을 계약 공급 합니다. > HTOL 테스트 (고온 작동 수명)는 표면 탄성파 필터 (SAW, BAW, FBAR, XBAR), 저온 동시 소성 세라믹 필터 (LTCC)와 같은 마이크로 전자 부품의 신뢰성 시험의 중요한 요소입니다. > 다른 대상 DUT (테스트 대상 장치)는 다이 플 렉서, 쿼드 플 렉서 및 전체 프런트 엔드 구성 요소 (RFFE)입니다. 이러한 테스트는 대량의 DUT 배치에 절대 최대 정격 및 추가적으로 일반적으로 125 ° C의 고온에서 RF 스트레스를받습니다. > RF 스트레스 신호는 신뢰할 수있는 통계를 생성하기 위해 매우 정확하고 장기적으로 안정적이어야합니다 (1000 시간 이상). > 이 기능에 적합 한 시스템으로는 삼성전기에 납품한 80채널 시스템과 동일한 8채널 PME 시스템과 와이솔의 요구에의한 고객 요구 테스트 진행 소프트웨어가 개발 되어 공급 예정 입니다. > > 채널당 최대 10와트와 300MHz에서 최대 6000MHz의 대역폭을 제공하는 80개의 DUT(테스트 대상 장치)를 위한 소형 완전 자동 HTOL RF 테스트 시스템. 주파수 범위는 최신 5G 구성 요소를 포함한 모든 셀룰러, C2X 및 연결 시스템을 포함합니다. 시스템은 각 출력에서 자동 레벨 제어(ALC) 루프와 함께 보관되는 높은 수준의 정확도를 제공합니다. 이 시스템에는 옵션인 펄스 변조기와 직관적인 처리를 위한 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)가 있는 내부 CW 신호 소스가 있습니다. > 구성 요소의 수명. HTOL 테스트 중에 스트레스로 인해 죽는 테스트중인 디바이스는 동일한 테스트 설정에서 인접 디바이스에 영향을 미치지 않아야 합니다. > 제품의 링크는 아래와 같습니다. > https://www.becker-rf.com/files_db/1646824410_6554__17.pdf > 또한 제품 문의는 lee(at)ltechrf.com 으로 메일 주시면 답변 하여 드리도록 하겠습니다. > >
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